GLSR-1000型玻璃熔體電阻率試驗儀是一款專用于玻璃熔體電阻測試的設備，采用自動平衡技術，具有交流電壓輸出功能，頻率可調，可測試不同電流及頻率下的電阻率數據，加熱及溫控系統數據穩定，可以設置不同溫度及升溫速率，是研究玻璃熔體電阻率的重要設備。

產品簡介 GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀采用當前的自動平衡電橋原理研制成功的新一高溫介電溫譜分析儀，產品全新的電子器件。.了傳統國產儀器復雜繁瑣的操作界面?；赪indows10操作系統。實現了全電腦化操作界面。讓測試更智能、更簡便。 T 120MHz的頻率瓶頸:解決了國外同類儀器只能分析、無法單獨測試的缺陷:中英文操作界面也解決了國外儀器僅有英文界面的增尬:采用單測和分析兩種界面。

TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀一款兼具薄膜和塊體（可擴展）的測試各種薄膜材料在高溫、真空、氣氛條件下的電阻和電阻率，可以用來分析樣品的電阻率隨溫度變化曲線、電阻溫阻系數、樣品相變溫度點。而且可廣泛用于光電、鐵電、熱電等各種導電材料的電阻率測量。是目前科研和生產的重要材料測量設備。

HTIM-600高溫電阻率測試儀是一款針對于材料的測量設備，可以出具CNAS整體認證的專業材料高溫測量設備，該儀器采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統，實現了是以往產品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測量，作為皮安表使用進行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設計的懸浮式電路，

HTIM-3高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統采用四線電阻法測量原理進行設計開發，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導體GaAsA