JWDL-1型金屬電阻率測試儀（銅，導電薄膜）的詳細資料：

JWDL-1型金屬電阻率測試儀

關鍵詞：金屬電阻，導電膜，金屬涂層

JWDL-1型金屬電阻率測試儀是一款針對于不同金屬材料電阻測試的專業設備，不管是銅金屬材料，導電金屬箔材，金屬片等，柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層都可以采用這款設備，金屬電阻率測試方案核心原則：一是可以用專門測試金屬材料電阻率的鎢針探頭，二是要知道金屬材料的測試范圍能夠更好的為你選配四探針測試儀。金屬材料屬于硬質材料，必須要選擇碳化鎢針探頭，這種探頭具有耐磨性好，使用時間長。WDL-1型金屬電阻率測試儀是判斷金屬性質的重要設備，也是材料生產廠家和科研的重要設備。

一、主要應用領域：

1、硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；

2、柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻

3、電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量

4、電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

二、主要技術參數：

測量范圍

1、電  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω

2、電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm

3、方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□

4、電壓量程： 20.00mV～2000mV

5、電流量程： 0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A

6、誤差：±0.1%讀數±2 字

7、材料尺寸：直徑：圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，

         方測試臺直接測試方式180mm×180mm，

         長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,

         測量方位: 軸向、徑向均可

8、探頭類型：

9、碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調

10、薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調

11、電源：輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功   耗：<20W

12、外形尺寸：主   機  220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高）

       凈   重：≤2.5kg

導電金屬箔材

               金屬                        銅金屬材料

我們專業提供功能材料測試設備及測試服務：

一、壓電材料測試裝置：ZJ-3型精密D33測試儀，ZJ-4型寬量程精密D33測試儀，ZJ-5型疊層壓電測試儀，ZJ-6型多功能參數壓電測試儀,GDPT-900A型高溫壓電測試系統,JKZC-YDZK03A型高精度壓電阻抗分析儀，YDH-1型壓電電荷測試儀，YDB-03型壓電陶瓷表面電壓測試儀

二、壓電材料制樣設備：PZT-JH10/4型壓電陶瓷極化裝置，PZT-JH20/1型粉末極化裝置

PZT-JH30/3型壓電陶瓷及薄膜綜合極化裝置，ZJ-D33-YP15型壓片機

三、介電材料測試裝置：GWJDN-600型四通道高溫介電測試儀，GWJDN-1000型四通道高溫介電測試儀

四：鐵電材料測測試儀：ZT-4A鐵電測試儀 ,FE-5000型變溫鐵電測試系統，ECM -150型電卡效應測試系，DCD-100型儲能電介質充放電測試系統，

五、BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀

高溫功能材料測試設備：

GDPT-900A型高溫D33測試系統，GWJDN-1000型四通道高低溫介電測試儀，HTRT-1000型導電材料高溫電阻率測試儀，JGWDZ-1000型金屬高溫電阻測量系統，BWGP-2000型變溫光譜測試系統（高低溫光譜系統），FSR-600材料高溫雙波段發射率測量系統，TSDC/TSC--400 型熱激勵去極化電流測量系統，GWTF-300高溫鐵電材料測量系統  ，HTGSRM-1000型高溫氣敏材料測量系統，PTC/NTC-500高溫熱敏電阻材料參數測量分析系統，HTRS-1000型高溫半導體材料電阻率測試儀，PRPM-1000熱釋電系數高溫測試系統，HTRC-600型高溫導電材料電阻率測試系統，