TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀一款兼具薄膜和塊體（可擴展）的測試各種薄膜材料在高溫、真空、氣氛條件下的電阻和電阻率，可以用來分析樣品的電阻率隨溫度變化曲線、電阻溫阻系數、樣品相變溫度點。而且可廣泛用于光電、鐵電、熱電等各種導電材料的電阻率測量。是目前科研和生產的重要材料測量設備。

四通道同屏對比測試高溫介電溫譜測量系統運用三電極法設計原理測量，并參考美國 A.S.T.M 標準。采用Labview系統開發具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。

GWST-1000型高溫四探針綜合測試系統（包含薄膜，塊體功能）是為了更方便的研究在高溫條件下的半導體的導電性能，該系統可以*實現在高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和外延層、擴散層和離子層的方塊電阻及測量其他方塊電阻。